2022年8月13日 2:28 PM#826
管理者
現状では、SFAC 命令は通常の元素名の羅列のもののみの対応となっており、細かいパラメータ設定を受け付けません。
また、DISP命令、LAUE命令も「特殊命令の入力」メニューから入力だけはできるのですが、これらの命令は SFAC 命令と UNIT命令の間に配置しなければならないため、正常に動作しないと思います。
一応、SFAC/DISP命令のおおまかな修正は終わりましたので、簡単なテストの後にリリースしたいと思います。
また、DISP命令、LAUE命令も「特殊命令の入力」メニューから入力だけはできるのですが、これらの命令は SFAC 命令と UNIT命令の間に配置しなければならないため、正常に動作しないと思います。
一応、SFAC/DISP命令のおおまかな修正は終わりましたので、簡単なテストの後にリリースしたいと思います。
参考までにお聞きしたいのですが、ラウエ法による測定を行うことはありますでしょうか? LAUE命令対応を考えますと、回折強度データの入力等も見直す必要があるため、対応に少々時間がかかりそうです。
(現実的にはラウエ法用の回折強度データは外部プログラムで変換処理を行い、当面は Yadokari 本体では扱わないことにすると思います)
なお、波長のデータの SHELX における取扱ですが、(DISP命令で設定される)異常分散項及び吸収項を除き、シンクロトロン光の任意波長のデータでも正しく処理される筈です。逆に言えば、これらの値を設定するために DISP 命令の挿入が必要になります。通常のX線測定では、SFAC/LAUE 命令は不要だと思います。
中性子のデータでは SFAC 命令による詳細設定が必要になります。
またラウエ法による測定では LAUE 命令の挿入と対応した回折強度データの用意が必要になります。(この場合、波長はほぼ無視されると思います)
Nemo 2010/06/10(Thu) 11:13